scanning-microscope-focusing-with-landmark-feature-line-scan - 使用地标线扫描聚焦扫描显微镜
通过调整光学参数最小化地标特征线扫描的半高全宽，并校正图像漂移，从而聚焦扫描显微镜。
标签
更新于: 2026-09-28能力
典型输入
典型输出
该技能可以做什么
- 采集感兴趣区域图像
- 采集地标特征线扫描
- 调整聚焦光学参数
- 配准漂移图像
- 计算漂移校正量
- 跟踪半高全宽趋势
- 绘制参数-半高全宽数据
- 拟合二次函数
输入
- 感兴趣区域图像文件
- 线扫描位置
- 初始光学参数
- 参数搜索范围
- 初始步长
- 期望参数精度
输出
- 采集的二维图像
- 采集的一维线扫描
- 半高全宽测量值
- 调整后的光学参数
- 漂移校正后的扫描位置
- 参数-半高全宽图
- 二次拟合图
- 优化历史报告
要求
- 二维图像采集工具
- 一维线扫描工具
- 光学参数控制工具
- 图像配准工具
- Python表达式求值工具
- NPY或TIFF文件支持